2008 年6月18日四年一次的颗粒测试会议——第七届全国颗粒测试学术会议（暨 2008 年上海市颗粒学会年会）在张家界天门山大酒店胜利召开了。

来自全国各地的几十家科研院所、仪器厂商的近百名代表参加了此次会议。同时得到了珠海欧美克、丹东百特、天津天河医疗仪器有限公司、北京海岸鸿蒙标准物质公司、济南微纳颗粒技术有限公司、荷南安米德有限公司、贝克曼库尔特有限公司、华嘉（香港）有限公司、中国粉体技术杂志社、北京市理化分析测试中心等数十家企事业单位的大力支持。会议首先由中国颗粒学会颗粒测试专业委员会胡荣泽主任和上海市颗粒学会理事长蔡小舒教授致辞。随后进行特邀大会发言，报告人就颗粒测量技术的最新进展、纳米颗粒暴露的危害、纳米颗粒对特种材料的影响、新型粒度仪的研制、新型纳米功能材料的合成以及粒度分析新方法的探讨等诸多方面进行了发言，与会代表积极参与讨论，会议取得圆满成功。